{
    "metadata": {
        "dataset_id": "shahroodut-thesis",
        "record_id": "TK696",
        "title": "تشخیص خطای مقاوم با استفاده از روش ∞H2/H برای سیستم‌های فتوولتائیک",
        "publisher": "دانشگاه صنعتی شاهرود",
        "owner": "کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی شاهرود",
        "license": "CC-BY-4.0",
        "license_url": "https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/",
        "license_text": "استفاده، بازنشر، تحلیل، پردازش و بهره برداری پژوهشی، آموزشی و صنعتی با ذکر منبع دانشگاه صنعتی شاهرود مجاز است.",
        "publication_date": "1397",
        "last_update": "2026-07-11",
        "language": "fa",
        "format": "application/json",
        "contact": "thesis@shahroodut.ac.ir",
        "access": {
            "fulltext_available": "true",
            "public_access": "true"
        }
    },
    "data": {
        "thesis_id": "TK696",
        "title": "تشخیص خطای مقاوم با استفاده از روش ∞H2/H برای سیستم‌های فتوولتائیک",
        "degree": null,
        "faculty": "مهندسی برق",
        "year": 1397,
        "authors": [
            {
                "name": "فرهاد راسخ",
                "role": "پدیدآور اصلی"
            },
            {
                "name": "محمد علی صدرنیا",
                "role": "استاد راهنما"
            }
        ],
        "keywords": [
            "سیستم فتوولتائیک",
            "H2/H∞",
            "تشخیص و شناسایی عیب (FDI)",
            "نامعینی"
        ],
        "abstract": "برای مشکل حفاظتی تکنیک عیب‌یابی بر اساس اندازه‌گیری‌ های پارامترهای فتوولتائیک  نظیر ولتاژ ، جریان ، شدت تابش ، دما و... مطرح می‌شود. در حال حاضر یکی از مشکلات الگوریتم تشخیص عیب در پنل سلول‌های خورشیدی عدم توانایی آن ها در شناسایی محل دقیق رویداد عیب در سیستم است. در این پژوهش به تشخیص و شناسایی مقاوم در برابر عیب در  سیستم های فتوولتائیک  با استفاده از روش H2/H∞  پرداخته ‌شده است . سیستم‌های واقعی همواره شامل نامعینی یا عدم قطعیت‌هایی می‌باشند که این نامعینی‌ها می‌تواند ناشی از عدم قطعیت در حضور اغتشاش باشد . برای نشان دادن کارایی این روش تفاضل خروجی سیستم را با خروجی مدل که سیگنال باقیمانده می‌باشد  با استفاده از شبیه ‌سازی مشاهده و تحلیل کرده تا کارایی لازم را برای ادامه کار سیستم تضمین کند. هدف اصلی ارائه یک سیستم تشخیص و شناسایی عیب(FDI ) به روش مقاوم  می‌باشد به‌گونه‌ای که تأثیر عیب روی مدل را بیشینه کند تا عیب را به ‌وسیله سیگنال باقیمانده تشخیص دهد و سیستم در مقابل اغتشاش مقاوم باشد تا به کار خود ادامه دهد. روش مقاوم با استفاده از ∞H2/H  یکی از روش‌هایی است که کارایی سیستم را در حضور اغتشاش و عدم قطعیت‌های مختلف تضمین می‌کند.",
        "repository": "کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی شاهرود",
        "note": "حقوق مادی و معنوی متعلق به دانشگاه صنعتی شاهرود می باشد.",
        "download_url": "https://shahroodut.ac.ir/fa/thesis/files/somefiles/sf_TK696.pdf"
    },
    "dictionary": {
        "thesis_id": "شناسه پایان نامه",
        "title": "عنوان پایان نامه",
        "degree": "مقطع تحصیلی",
        "faculty": "دانشکده",
        "year": "سال دفاع",
        "authors": "پدیدآورندگان",
        "keywords": "کلیدواژه ها",
        "abstract": "چکیده",
        "repository": "محل نگهداری",
        "note": "یادداشت",
        "download_url": "آدرس فایل پایان نامه"
    }
}